ICTD08 邀请函

ICTD08(2008 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis ) ：电路系统测试与诊断国际学术会议，是由IEEE电路与系统（CAS）协会发起组织并提供资助的国际会议，并得到中国电子学会、中国仪器仪表学会大力支持，该会议将在2008年10月25日-26日在中国成都市举办，具体会务由电子科技大学自动化学院承办。该会议收录的论文将由IEEE负责出版，并将由IEEE Xplore 与EI双重收录。

大会主席由美国鹿特丹大学电子工程系主席教授刘瑞文教授担任，他是IEEE终生院士，前IEEE CAS 主席。ICTD08将邀请世界一流学者作主题演讲，其中包括美国加州大学伯克利分校杰出讲座教授胡正明教授，他是IEEE Fellow ，美国科学院院士，中国科学院外籍院士。

ICTD08 主办与支持单位： IEEE 电路与系统协会、电子科技大学、中国电子学会、中国仪器仪表学会

大会总主席：刘瑞文教授、王厚军教授（电子科技大学）

大会程序委员会主席：虞厥邦教授（电子科技大学）、Bin-Da Liu 教授（台湾成功大学）

论文采用英语写作，内容不超过4页，论文模板采用IEEE标准格式，可以在ICTD08会议网站下载。征文详细内容及其它有关详情访问http：// ictd08．uestc. edu.cn或发email: ictd@uestc.edu.cn

ICTD08热情欢迎您参与!